密封測(cè)試儀又叫氣密性檢測(cè)儀或泄露性測(cè)試儀，主要適用于食品、制藥、醫(yī)療器械、日化、汽車、電子元器件、文具、消費(fèi)類電子等行業(yè)的包裝袋、瓶、管、罐、盒等的密封試驗(yàn)。
當(dāng)談到為產(chǎn)品做微量檢測(cè)時(shí)，我們可能會(huì)想到稱量用的天平。
直壓方式檢測(cè)相當(dāng)于用電子天平進(jìn)行微量稱量。若有一個(gè)充滿氣的氣球(相當(dāng)于被測(cè)工件)，在電子天平上稱出質(zhì)量后，若氣球(被測(cè)工件)有泄漏則電子天平稱出的質(zhì)量會(huì)減少，這兩次稱量有一質(zhì)量差，這個(gè)質(zhì)量差就是氣球(被測(cè)工件)的泄漏量。
直壓方式檢測(cè)泄漏的過程與此極為相似:
直壓型氣密儀檢測(cè)操作過程是這樣的:對(duì)工件的被測(cè)容腔在一定壓力條件下(具體壓力參數(shù)由生產(chǎn)線檢測(cè)工藝規(guī)程決定)進(jìn)行充氣、保持一定時(shí)間后，切斷被測(cè)工件和氣源的聯(lián)系并記錄下此時(shí)的壓力示值，經(jīng)過一定時(shí)間(數(shù)秒或數(shù)十秒)后，再次讀取壓力示值并和前次記錄的壓力示值進(jìn)行比較。
若被測(cè)容腔有泄漏，則兩次壓力示值有一個(gè)差值。此差值大小反映工件在檢測(cè)時(shí)間周期內(nèi)的泄漏狀態(tài)，差值越大表示工件泄漏越嚴(yán)重。只要此差值在允許范圍內(nèi)，即可認(rèn)為被測(cè)工件合格。反之，為不合格。
差壓方式檢測(cè)相當(dāng)于杠桿天平稱量。天平一端放有"基準(zhǔn)砝碼(參考物)"，另端放入待檢零件，不斷的增減零件的數(shù)量使天平達(dá)到平衡時(shí)，砝碼(參考物)的質(zhì)量即為零件的質(zhì)量。
氣體密封性能檢測(cè)儀的基本工作原理同天平一樣，一端是基準(zhǔn)參考物(標(biāo)準(zhǔn)品)，另一端是被測(cè)零件(被測(cè)品)。但是，其測(cè)量順序與天平正好相反，基準(zhǔn)參考物與被測(cè)工件兩邊同時(shí)充入相同壓力的空氣，使"天平"--差壓傳感器兩端平衡。
如果被測(cè)工件有泄漏，即使是微小泄漏，"天平"也將失去平衡，從而檢測(cè)出兩端因泄漏而產(chǎn)生的差壓。氣體密封性能檢測(cè)儀將根據(jù)差壓的變化測(cè)出工件的具體泄漏量，然后判斷被測(cè)工件是否合格，并將這些信息傳送給操作人員。
因?yàn)闃?biāo)準(zhǔn)品與被測(cè)工件形狀、大小都相同，并且檢測(cè)過程中，兩端的外部環(huán)境狀況*一樣，所以這種測(cè)試方法可以消除溫度、振動(dòng)等環(huán)境因素的影響，得到高精度的測(cè)量結(jié)果。
直壓型氣密儀和差壓型氣密儀的檢測(cè)原理是相同的，它們的主要差別是檢測(cè)方式不同。
差壓型氣密儀的檢測(cè)操作過程和直壓型的差別主要是利用"標(biāo)準(zhǔn)品"作為參照物在相同的過程和狀態(tài)條件下，比較被測(cè)工件與"標(biāo)準(zhǔn)品"的差異來判斷被測(cè)工件是否合格。其檢測(cè)過程如下:
首先在氣密儀標(biāo)示的標(biāo)準(zhǔn)品端接上標(biāo)準(zhǔn)品(標(biāo)準(zhǔn)品可以是一個(gè)被用多種方法檢測(cè)合格并被確認(rèn)為可以作為衡量其他與之相同的被測(cè)工件標(biāo)準(zhǔn)的工件或特定制品)，然后同時(shí)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)品與被測(cè)工件容腔充氣(充氣壓力、時(shí)間等參數(shù)由工藝程確定)，經(jīng)過一段數(shù)秒或數(shù)十秒的平衡時(shí)間后，將標(biāo)準(zhǔn)品與工件被測(cè)容腔*隔斷進(jìn)行數(shù)秒或數(shù)十秒的壓力監(jiān)視后比較二者的壓力示值差，這個(gè)壓力差就是工件被測(cè)容腔的壓力泄漏值，若其值在允許范圍內(nèi)則認(rèn)為被測(cè)品合格，否則判為不合格。
